漆膜介质损耗因数测试仪

关键词：漆膜介质损耗因数测试仪

详细信息

　　漆膜介质损耗因数测试仪

　　技术参数：

　　1．Q值测量

　　a．Q值测量范围：2～1023。

　　b．Q值量程分档：30、100、300、1000、自动换档或手动换档。

　　c．标称误差

　　频率范围（100kHz～10MHz）：频率范围（10MHz～160MHz）：

　　固有误差：≤5％±满度值的2% 固有误差：≤6％±满度值的2%

　　工作误差：≤7％±满度值的2% 工作误差：≤8％±满度值的2%

　　2．电感测量范围：4.5nH~7.9mH

　　3．电容测量：1~205

　　主电容调节范围：18～220pF

　　准确度：150pF以下±1.5pF； 150pF以上±1%

　　注：大于直接测量范围的电容测量见后页使用说明

　　4. 信号源频率覆盖范围

　　频率范围CH1:0.1～0.999999MHz, CH2: 1～9.99999MHz,

　　CH3:10～99.9999MHz, CH1 :100～160MHz,

　　5．Q合格指示预置功能: 预置范围：5～1000。

　　6．B-测试仪正常工作条件

　　a. 环境温度：0℃～+40℃；

　　b．相对湿度：lt;80％；

　　c．电源：220V±22V，50Hz±2.5Hz。

　　7．其他

　　a．消耗功率：约25W；

　　b．净重：约7kg；

　　c. 外型尺寸：（l×b×h）mm：380×132×280。

　　漆膜介质损耗因数测试仪

　　电场强度

　　存在界面极化时，自由离子的数目随电场强度增大而增加，其损耗指数大值的大小和位置也随此而变。

　　在较高的频率下，只要电介质中不出现局部放电，电容率和介质损耗因数与电场强度无关.

　　陶瓷材料的损耗

　　陶瓷材料的介质损耗主要来源于电导损耗、松弛质点的极化损耗和结构损耗。此外，表面气孔吸附水分、油污及灰尘等造成的表面电导也会引起较大的损耗。

　　在结构紧密的陶瓷中，介质损耗主要来源于玻璃相。为了改善某些陶瓷的工艺性能，往往在配方中引人此易熔物质（如黏土），形成玻璃相，这样就使损耗增大。如滑石瓷、尖晶石瓷随黏土含量增大，介质损耗也增大。因面一般高频瓷，如氧化铝瓷、金红石等很少含有玻璃相。大多数电陶瓷的离子松弛极化损耗较大，主要的原因是：主晶相结构松散，生成了缺固济体、多品型转变等。

　　漏导损耗

　　实际使用中的绝缘材料都不是完善的理想的电介质，在外电场的作用下，总有一些带电粒子会发生移动而引起微弱的电流，这种微小电流称为漏导电流，漏导电流流经介质时使介质发热而损耗了电能。这种因电导而引起的介质损耗称为“漏导损耗”。由于实阿的电介质总存在一些缺陷，或多或少存在一些带电粒子或空位，因此介质不论在直流电场或交变电场作用下都会发生漏导损耗。

　　介质损耗：绝缘材料在电场作用下，由于介质电导和介质极化的滞后效应，在其内部引起的能量损耗。也叫介质损失，简称介损。在交变电场作用下，电介质内流过的电流相量和电压相量之间的夹角（功率因数角Φ）的余角δ称为介质损耗角。

　　损耗因子也指耗损正切，是交流电被转化为热能的介电损耗（耗散的能量）的量度，一般情况下都期望耗损因子低些好。

　　电介质在恒定电场作用下，介质损耗的功率为

　　W=U2/R=（Ed）2S/ρd=σE2Sd

　　定义单位体积的介质损耗为介质损耗率为

　　ω=σE2

　　在交变电场作用下，电位移D与电场强度E均变为复数矢量，此时介电常数也变成复数，其虚部就表示了电介质中能量损耗的大小。

　　D，E，J之间的相位关系图

　　如图所示，从电路观点来看，电介质中的电流密度为

　　J=dD/dt=d（εE）/dt=Jτ+iJe

　　式中Jτ与E同相位。称为有功电流密度，导致能量损耗；Je，相比较E超前90°，称为无功电流密度。

　　定义